整根電纜或電纜試樣在試驗(yàn)前應(yīng)置于溫度適當(dāng)穩(wěn)定的試驗(yàn)室內(nèi)至少12h。如懷疑導(dǎo)體或金屬屏蔽溫度與試驗(yàn)室溫度不同,則電纜應(yīng)放在試驗(yàn)室內(nèi)24h后再測(cè)量電阻。或者可將導(dǎo)體或金屬屏蔽試樣放置在可控溫的恒溫槽內(nèi)至少1 h后再測(cè)量電阻。導(dǎo)體或金屬屏蔽直流電阻應(yīng)按GB/T3956給出的公式和系數(shù)校正到溫度為20"C時(shí)1km的數(shù)值。對(duì)于不是銅或鋁的金屬屏蔽,溫度系數(shù)和校正公式應(yīng)分別從JB/T10181.11--2014的表1和2.1.1取得。校正到20C的導(dǎo)體直流電阻不應(yīng)超過(guò)GB/T3956規(guī)定的相應(yīng)的*大值或申明值。校正到20°C的金屬屏蔽直流電阻不應(yīng)超過(guò)申明值。

絕緣和外護(hù)套厚度測(cè)量概述試驗(yàn)方法應(yīng)按GB/T2951.11--2008第8章的規(guī)定,但包覆在皺紋金屬套上的外護(hù)套厚度測(cè)量應(yīng)按照10.6.3給出的方法。應(yīng)從每根選作試驗(yàn)的電纜的--端(如果必需)截除任何可能受到損傷的部分后,切取--段代表被試電纜的試樣。

對(duì) 絕緣的要求此外,包覆在基本光滑表面.上的外護(hù)套,其測(cè)量值的平均值(mm)按附錄B修約至一位小數(shù),不應(yīng)小于標(biāo)稱(chēng)厚度。

對(duì)平均厚度的要求不適用于包覆在不規(guī)則表面上的外護(hù)套,如包覆在金屬屏蔽線(xiàn)和(或)金屬帶、或皺紋金屬套上的外護(hù)套。包覆在皺紋金屬套上的外護(hù)套厚度,應(yīng)采用具有至少一個(gè)半徑約為3 mm的球面測(cè)頭、精度為士0.01 mm的測(cè)微計(jì)進(jìn)行測(cè)量。取和測(cè)量的步驟如下:a)從成品電纜 上切取包含至少6個(gè)波峰和6個(gè)波谷的足夠長(zhǎng)度的一段外護(hù)套試樣,在該外護(hù)套試樣的外表面上畫(huà)一條平行于電纜軸線(xiàn)的參考線(xiàn)。從外護(hù)套試樣的一端截取的-一個(gè)圓環(huán)上確定*小厚度的位置,以該*小厚度的位置為中點(diǎn)(以前述的參考線(xiàn)輔助定位)、沿著電纜軸線(xiàn)切取寬度約為20mm~40mm的包含了6個(gè)波峰和6個(gè)波谷的條狀試片。應(yīng)小心地除去試片上的各種附著物(如防腐涂料);b)在條狀試片_上6個(gè)波谷位置(護(hù)套較薄處)分別測(cè)量每個(gè)波谷處的護(hù)套*小厚度。6個(gè)測(cè)量值中*小的一一個(gè)即為該皺紋金屬套上的外護(hù)套的*小測(cè)量厚度。

金屬套厚度測(cè)量下列試驗(yàn)適用于鉛、鉛合金或鋁金屬套電纜。

?窄條法應(yīng)采用測(cè)量面直徑為4 mm~8 mm、精度為士0.01 mm的測(cè)微計(jì)進(jìn)行測(cè)量。應(yīng)從成品電纜上切取約50mm長(zhǎng)的鉛套試件進(jìn)行測(cè)量。應(yīng)將試件沿縱向剖開(kāi),并小心地展平。在清潔試片后,應(yīng)沿著鉛套圓周、距試片邊緣不小于10mm處在足夠多的點(diǎn)上測(cè)量，以確保測(cè)得*小.厚度。

圓環(huán)法應(yīng)采用測(cè)微計(jì)測(cè)量,測(cè)微計(jì)的兩個(gè)測(cè)量面,一個(gè)為平面,另-一個(gè)為球面,或一個(gè)為平面,另一個(gè)為長(zhǎng)2.4mm、寬0.8mm的矩形平面。球面或矩形平面應(yīng)適合與環(huán)的內(nèi)側(cè)面接觸。測(cè)微計(jì)精度應(yīng)為士0.01 mm。應(yīng)從試樣上仔細(xì)切取鉛套圓環(huán)進(jìn)行測(cè)量。應(yīng)沿圓環(huán)的圓周在足夠多的點(diǎn)上測(cè)量,以確保測(cè)得*小厚度。